prom-kraska.ru

Статьи Фторид лития и фторид магния как защита пленок алюминия

Фторид лития и фторид магния как защита пленок алюминия

Пленки LiF, конечно, более гигроскопичны, чем пленки MgF2, и поэтому требуется более тщательное их хранение. Однако дли­тельное хранение в атмосфере с 40%-ной относительной влаж­ностью, по-видимому, не приносит значительного вреда. Хране­ние в течение нескольких месяцев в лабораторных условиях без осушителя снижает коэффициент отражения покрытия LiF на алюминии всего лишь на несколько процентов. При более высо­кой влажности зеркала быстро портятся, и таких условий сле­дует избегать. При хранении зеркал с покрытием в сушильном шкафу не наблюдалось существенного изменения отражения в течение года.

 

О зависимости отражения от угла падения для этих пленоч­ных комбинаций опубликованных данных не имеется. Такая за­висимость является функцией как длины волны, так и толщины

ugol_padenia

Фиг. 1. Зависимость отражения пленок алюминия, защищенных слоями MgF2 различной толщины от угла падения света с длиной волны  1216А.

umen_otr

Фиг. 2. Уменьшение отражения поверхности стекла для 3900А при напылении пленки MgF2.

пленки. Ряд типичных кривых приведен на фиг. 1 для различ­ных толщин MgF2 на алюминии при 1216 А. Интересно, что для оптимальной толщины MgF2 (250 А) отражение в области измеренных углов почти монотонно падает с увеличением угла падения. Очевидно, что такие зеркала не следует использовать при больших углах падения.Толщина пленок MgF2 и LiF контролировалась по отраже­нию передней поверхности стеклянной пластинки. Эта пластинка была защищена от напыления алюминия, но на нее напылялись пленки MgF2. На фиг. 2 приведена калибровочная кривая зависимости отражения от толщины пленки MgF2, по которой на основе измерения уменьшения отражения поверхности стекла при Х = 3900 А контролировалась толщина пленки MgF2. За 100 делений на шкале принимался коэффициент отражения не­покрытой поверхности стекла (который составлял 4,4%, если подложка имела вид призмы или обратная сторона подложки грубо шлифовалась). Уменьшение отражения от 100 до 80 де­лений соответствует толщине пленки MgF2 порядка 250 А. Ана­логичная калибровочная кривая может быть экспериментально определена для контроля толщины пленок LiF. В этом случае шкала по ординате будет соответствовать толщинам пленок LiF, которые примерно на 5% тоньше, чем величины для MgF2, приведенные на фиг. 2.

Обновлено 19.11.2015 14:23  

Корзина




Ваша корзина пуста.

   

Категории товаров

Выбор валюты


Euro / Russian Ruble / US Dollar /