prom-kraska.ru

Статьи Оптика тонких пленок

Оптика тонких пленок

Задача расчёта интенсивности отраженного, прошедшего и поглощенного света в многослойной система пленок с из­вестными толщинами и оптическими постоянными каждого слоя системе в зависимости от длины волны света при произвольном угле падения и произвольной поляриза­ции света и относительное изменение фазы отраженного и про­шедшего света исследовалась в работах для случая однородных и изотропных слоев, т. е. слоев, оптические постоянные которых не меняются от точки к точке и от направления внутри данного слоя. В различных работах использовались разные теоретические подходы, и хотя в конеч­ном счете все методы расчета формально связаны между собой, в некоторых случаях они заметно различаются объемом требую­щихся вычислений. Эти внешние различия важны, однако, с вы­числительной стороны, так как не существует метода, опти­мального для всех применений. Ряд работ был посвящен расчету свойств неоднородных и анизотропных пленок. Однако теоретическое рассмотрение таких пленок очень сложно и не существует прямого метода расчета их свойств во всех случаях.

Вообще говоря, расчет тонких пленок представляет собой утомительную работу, которая отнимает много времени. Этот труд может быть несколько облегчен при использовании графических методов, например номограмм адмиттансов. Однако в тех случаях, где требуется провести большое число расчетов, практически необ­ходимо использовать быстродействующие электронные вычисли­тельные машины. Опыт показывает, что общая программа рас­чета тонких пленок может быть успешно проведена на малой счетной цифровой машине. Аналоговые машины для этих целей почти не применялись, хотя последние достижения в этой обла­сти указывают на их перспективность.

 

Корзина




Ваша корзина пуста.

   

Категории товаров

Выбор валюты


Euro / Russian Ruble / US Dollar /