Фторид лития и фторид магния как защита пленок алюминия
Пленки LiF, конечно, более гигроскопичны, чем пленки MgF2, и поэтому требуется более тщательное их хранение. Однако длительное хранение в атмосфере с 40%-ной относительной влажностью, по-видимому, не приносит значительного вреда. Хранение в течение нескольких месяцев в лабораторных условиях без осушителя снижает коэффициент отражения покрытия LiF на алюминии всего лишь на несколько процентов. При более высокой влажности зеркала быстро портятся, и таких условий следует избегать. При хранении зеркал с покрытием в сушильном шкафу не наблюдалось существенного изменения отражения в течение года.
О зависимости отражения от угла падения для этих пленочных комбинаций опубликованных данных не имеется. Такая зависимость является функцией как длины волны, так и толщины
Фиг. 1. Зависимость отражения пленок алюминия, защищенных слоями MgF2 различной толщины от угла падения света с длиной волны 1216А.
Фиг. 2. Уменьшение отражения поверхности стекла для 3900А при напылении пленки MgF2.
пленки. Ряд типичных кривых приведен на фиг. 1 для различных толщин MgF2 на алюминии при 1216 А. Интересно, что для оптимальной толщины MgF2 (250 А) отражение в области измеренных углов почти монотонно падает с увеличением угла падения. Очевидно, что такие зеркала не следует использовать при больших углах падения.Толщина пленок MgF2 и LiF контролировалась по отражению передней поверхности стеклянной пластинки. Эта пластинка была защищена от напыления алюминия, но на нее напылялись пленки MgF2. На фиг. 2 приведена калибровочная кривая зависимости отражения от толщины пленки MgF2, по которой на основе измерения уменьшения отражения поверхности стекла при Х = 3900 А контролировалась толщина пленки MgF2. За 100 делений на шкале принимался коэффициент отражения непокрытой поверхности стекла (который составлял 4,4%, если подложка имела вид призмы или обратная сторона подложки грубо шлифовалась). Уменьшение отражения от 100 до 80 делений соответствует толщине пленки MgF2 порядка 250 А. Аналогичная калибровочная кривая может быть экспериментально определена для контроля толщины пленок LiF. В этом случае шкала по ординате будет соответствовать толщинам пленок LiF, которые примерно на 5% тоньше, чем величины для MgF2, приведенные на фиг. 2.
