Комплексные амплитудные коэффициенты отражения и пропускания

По-видимому, в оптике тонких пленок наиболее обычным способом описания является такой способ, при котором в качестве переменных ис­пользуются коэффициенты отражения и пропускания, определен­ные как отношения комплексных амплитуд электрического поля. Эти величины можно рассматривать как амплитудные коэффи­циенты отражения и пропускания системы пленок, расположен­ной справа от точки r, когда свет падает из полубесконечной среды с тем же показателем преломления, как и в точке r. В отличие от обычных коэффициентов отражения и пропускания величины r(z) и t(z) можно определить (правда, лишь фор­мально) для поглощающей среды. В такой среде при опре­деленных условиях, |r(z)| может даже превышать единицу.

Вообще говоря, для любой комбинации непоглощающих пленок, в которой фазовые толщины индивидуальных пленок являют­ся целыми кратными некоторой единичной толщины, величины R и, следовательно, Т представляют собой периодические функ­ции этой единичной толщины или, что эквивалентно, величины 1Д. В пределах периода кривые R или Т будут, конечно, более или менее сложными в зависимости от числа пленок и особен­ностей структуры системы.

Еще одна важная черта рассматриваемого метода состоит в том, что с его помощью легко получить приближенные форму­лы, полезные в ряде специальных случаев.

Например, при конструи­ровании многослойных фильтров часто повторно используют определенные специфические комбинации слоев в качестве ос­новных компонентов или «строительных блоков». Хорошим при­мером может служить стопа из четвертьволновых пленок LHLH ... HLH= (LH)^m, состоящая из чередующихся непогло­щающих пленок с высоким и низким показателями прело­мления.