Эквивалентность тонких плёнок

Сведение к двухслойной комбинации (или, когда это допустимо, к однослойной пленке) возможно для любой другой длины волны, однако новые параметры эквивалентной комбинации не связаны простым образом с параметрами для исходной длины волны. Более того, понятия «эффективных» показателей пре­ломления и толщин при наклонном падении (введенные в пре­дыдущем разделе) можно применить к эквивалентной системе только косвенным путем через эффективные показатели пре­ломления и толщины исходной системы. Таким образом, эти формальные эквиваленты имеют малое сходство с реальными пленками. И тем не менее понятие эквивалентности играет большую роль при проектировании (особенно для симметрич­ных непоглощающих комбинаций), поскольку позволяет легко представить свойства ряда весьма сложных многослойных си­стем. Важное обстоятельство заключается в том, что многие комбинации можно считать состоящими из m периодов некото­рой простой и симметричной системы.

В подобном случае эквивалентный показатель преломления N для комбинации окажется, естественно, таким же, как и для простого периода, а у будет в m раз больше, чем фазовая тол­щина простого периода. Рассчитав для простого периода N и у в зависимости от длины волны или единичной фазовой толщины составляющих пленок, можно легко определить отражение и пропускание в той же области длин волн или толщины для си­стемы из любого числа простых периодов, несмотря на то что N и у обладают в общем довольно сложным законом дисперсии. Потенциальные возможности использования понятия эквива­лентности при проектировании были рассмотрены в общем виде Эпштейном. В последних публикациях- этот принцип при­менен к просветляющим покрытиям в инфракрасной области спектра.

Существуют и другие полезные аспекты матричных методов, применимые к вычислительным и конструкторским задачам Можно сказать, что некоторые из наиболее изящных и фунда­ментальных теоретических работ в оптике тонких пленок обя­заны использованию этих методов.