Оптика тонких пленок
Задача расчёта интенсивности отраженного, прошедшего и поглощенного света в многослойной система пленок с известными толщинами и оптическими постоянными каждого слоя системе в зависимости от длины волны света при произвольном угле падения и произвольной поляризации света и относительное изменение фазы отраженного и прошедшего света исследовалась в работах для случая однородных и изотропных слоев, т. е. слоев, оптические постоянные которых не меняются от точки к точке и от направления внутри данного слоя. В различных работах использовались разные теоретические подходы, и хотя в конечном счете все методы расчета формально связаны между собой, в некоторых случаях они заметно различаются объемом требующихся вычислений. Эти внешние различия важны, однако, с вычислительной стороны, так как не существует метода, оптимального для всех применений. Ряд работ был посвящен расчету свойств неоднородных и анизотропных пленок. Однако теоретическое рассмотрение таких пленок очень сложно и не существует прямого метода расчета их свойств во всех случаях.
Вообще говоря, расчет тонких пленок представляет собой утомительную работу, которая отнимает много времени. Этот труд может быть несколько облегчен при использовании графических методов, например номограмм адмиттансов. Однако в тех случаях, где требуется провести большое число расчетов, практически необходимо использовать быстродействующие электронные вычислительные машины. Опыт показывает, что общая программа расчета тонких пленок может быть успешно проведена на малой счетной цифровой машине. Аналоговые машины для этих целей почти не применялись, хотя последние достижения в этой области указывают на их перспективность.
